使用万用表测量光耦的输入端和输出端的电阻，通过比较正常值与异常值来判断其好坏。
光耦（光电耦合器）是一种通过光信号传输电信号的电子元件，广泛应用于电气隔离、信号传输和电路保护等领域，正确测量光耦的性能对于确保其正常工作至关重要，以下是几种常见的光耦测量方法：
1、静态电阻测量
发光二极管（LED）检测：使用万用表测量光耦内LED的正反向电阻，正向电阻通常为几千欧到几十千欧，反向电阻应接近无穷大。
光敏三极管检测：将万用表调至hFE挡，分别连接光耦的光敏三极管的集电极、发射极和基极，读取电流放大倍数，一般通用型光耦的hFE值为一百至几百，若显示值为零或溢出，则表明光敏三极管短路或开路。
2、动态功能测试
输入侧测试：通过给光耦的输入端施加适当的驱动电流，观察LED是否正常点亮。
输出侧测试：连接示波器或多用途表到光耦的输出端，观测在输入信号作用下输出端的电压变化，正常情况下，当LED发光时，输出侧的光敏晶体管应该会产生相应的电流或电压输出。
3、比较法
将待测光耦与已知良好的同型号光耦对比测量上述电阻值，如果两者之间的电阻差异显著，则可能表明待测光耦存在问题。
4、在线测试
对于已经安装在电路板上的光耦，可以在不拆卸的情况下进行在线测试，但这种方法可能会受到周围电路的影响，可通过测量输出端在正常工作状态下的电压或电流，或者改变输入信号并观察输出反应来间接评估光耦的工作状况。
光耦的测量方法包括静态电阻测量、动态功能测试、比较法和在线测试等，每种方法都有其特定的应用场景和操作步骤，工程师需要根据具体情况选择合适的方法进行测量，以确保光耦的质量和性能。
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